I-PEX测试头专为射频测试与高频信号连接应用设计，采用紧凑型结构，可满足电子设备及无线通信产品在测试、调试过程中的连接需求。结构设计便于测试操作，为射频测试提供稳定的连接接口。

产品具有50Ω特性阻抗，频率范围覆盖DC-3GHz，适用于多种高频信号测试场景。良好的电气性能有助于保持信号传输稳定，满足射频测试设备、通信模块及电子设备的测试需求。

同时具备较高的耐电压和绝缘性能，对锁耐久性可达500次，工作温度范围为-55℃至+125℃，能够适应不同测试环境下的长期使用。