I-PEXテストヘッドは、RFテストおよび高周波信号接続用途向けに設計されています。コンパクトな構造により、電子機器や無線通信製品のテスト・デバッグに適しており、RF測定機器との安定した接続を実現します。

50Ωの特性インピーダンスとDC～3GHzの周波数範囲に対応し、さまざまな高周波信号のテスト環境で使用できます。安定した電気特性により、テストや測定時の信号伝送品質を確保します。

耐電圧・絶縁性能にも優れ、嵌合耐久性は最大500回です。-55℃～+125℃の使用温度範囲に対応し、幅広いテスト環境で安定した性能を発揮します。