I-PEX測試頭專為射頻測試與高頻訊號連接應用設計，採用緊湊型結構，可滿足電子設備及無線通訊產品在測試、除錯過程中的連接需求，為射頻測試提供穩定的連接介面。

產品具備50Ω特性阻抗，頻率範圍涵蓋DC-3GHz，適用於多種高頻訊號測試場景。穩定的電氣性能有助於維持訊號傳輸品質，滿足射頻測試設備、通訊模組及電子設備的測試需求。

同時具備良好的耐電壓與絕緣性能，對鎖耐久性可達500次，工作溫度範圍為-55℃至+125℃，可適應不同測試環境下的使用需求。