天线近场测量技术探讨

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天线特性参数的测量有多种方法,目前,主要的方法包括三大类:天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。其中,因天线特性主要是定义在天线的远场区故远场测量更为直接准确,而紧缩场测量天线主要是拉近远场所需远场条件:d≥2D2/λ,其通常采用一个抛物面金属反射板,将馈源发送的球面波经反射面反射形成平面波,在一定远距离处形成一个良好的静区。将天线安置在静区内,测量天线的远场特性,其类似于远场测量,只是缩短测量距离,便于在理想远场环境(暗室)下进行测量。

用频谱仪测试天线方法总结

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天线性能的主要参数有方向图、增益、输入阻抗,驻波比,极化方试等,用频谱仪对单收天线主要是对天线水平、俯仰方向的两个方向图测试,根据方向图3dB处的角度,推算出天线增益,包络线法则验证天线的性能。